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HTS-001 IC集成电路芯片测试仪
在学校的教学实验环节，需要大量地使用一些基本功能的集成芯片 。譬如74/54系列的门电路，放大器 ，比较器，三极管 ，光耦等 。由于学生初学电路，使用过程中，存在很多偶然的低级错误 ，造成芯片的损伤，给后面的实验造成很多麻烦，所以在实验过程中，为了排除这类因素，节省教学时间，需要用专用的芯片测试仪器对芯片的功能进行校验 。除此之外，此测试仪支持芯片自动查找功能 ，查找成功后会自动显示芯片的型号。测试仪软硬件独立设计 ，芯片库可更新， 简单易用。可根据用户提供的芯片，进行测试（需定制）
产品介绍
在学校的教学实验环节，需要大量地使用一些基本功能的集成芯片 。譬如74/54系列的门电路，AD/DA芯片，放大器，比较器，二极管，三极管，光耦 ，接口芯片等。
由于学生初学电路，使用过程中，存在很多偶然的低级错误 ，造成芯片的损伤，给后面的实验造成很多麻烦 ，所以在实验过程中，为了排除这类因素，节省教学时间，需要用专用的芯片测试仪器对芯片的功能进行校验。除此之外，此测试仪支持芯片自动查找功能，查找成功后会自动显示芯片的型号。测试仪软硬件独立设计，芯片库可更新， 简单易用。可根据用户提供的芯片，进行测试（需定制）。
芯片测试定制流程 ：
1. 客户提供完整的芯片名称 。
2. 客户提供详细的芯片白皮说明书。
3. 厂家根据芯片说明书基本确定可以测试后由客户发送测试芯片样品进行定制测试。
4. 厂家完成定制后根据芯片测试难度报价定制费用 。
5. 双方签订合同确定订单价格及交货周期 。
产品实现关键技术
1.系统带自检功能 ，芯片型号可自动判别；2.可测试74/54系列TTL芯片， 4000/4500系列CMOS芯片；
3.可测试放大器 ，比较器，二极管，三极管 ，光耦 ，接口芯片等集成电路芯片；
4.可测试常用的AD、DA芯片 ；
5.驱动程序支持win2000/ winxp/ win2003/ win7/ win8/ win10；
6.测试仪软硬件独立设计，芯片库可更新 ， 简单易用；
